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Médecine, Technologie, Sciences de l'ingénieur, Informatique
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Analytical and Instrumentation Science Symposia
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risultati
1
Postprint
Integrating Atomic Force Microscopy in Scanning Electron Microscopy
Smith, Andrew J.
;
Schock, Klaus
;
Renka, Gregor
;
Lieb, Andreas
;
Dadras, Massoud
;
Kleindiek, Stephan
In: Microscopy and Microanalysis, 2015, vol. 21, no. S3, p. 1435-1436