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Nanoscale Analysis by EFTEM and FIB-Tomography for Optimization of Thin-Film Silicon Solar Cells

Alexander, DTL ; Nicolay, S. ; Cuony, P. ; Cantoni, M. ; Ballif, C.

In: Microscopy and Microanalysis, 2010, vol. 16, no. S2, p. 1336-1337

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    Titre
    • Nanoscale Analysis by EFTEM and FIB-Tomography for Optimization of Thin-Film Silicon Solar Cells
    Auteur
    • Alexander, DTL. École Polytechnique Fédérale de Lausanne, Switzerland
    • Nicolay, S.. École Polytechnique Fédérale de Lausanne, Switzerland
    • Cuony, P.. École Polytechnique Fédérale de Lausanne, Switzerland
    • Cantoni, M.. École Polytechnique Fédérale de Lausanne, Switzerland
    • Ballif, C.. École Polytechnique Fédérale de Lausanne, Switzerland
    Type de document
    • Postprint
    Langue
    • Anglais
    Publié dans
    • Microscopy and Microanalysis, 2010, vol. 16, no. S2, p. 1336-1337. Cambridge University Press
    Autre version électronique
    Identifiant OAI-PMH
    • oai:doc.rero.ch:299500
    Summary
    Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2010 in Portland, Oregon, USA, August 1 - August 5, 2010