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Dokumententyp
Institution
Spezialsammlung
Sprache
- Englisch (1)
Autor
- Bullard, Jeffrey W. (1)
- Lothenbach, Barbara (1)
- Snyder, Kenneth A. (1)
- Stutzman, Paul E. (1)
Schlagwort
- Microstructure (1)
- Simulation (1)
- X-ray diffraction (XRD) (1)