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Postprint
Consortium of Swiss Academic Libraries

Contact damage of hard and brittle thin films on ductile metallic substrates: an analysis of diamond-like carbon on titanium substrates

Bernoulli, D. ; Wyss, A. ; Raghavan, R. ; Thorwarth, K. ; Hauert, R. ; Spolenak, R.

In: Journal of Materials Science, 2015, vol. 50, no. 7, p. 2779-2787

Postprint
Consortium of Swiss Academic Libraries

In situ compression tests on micron-sized silicon pillars by Raman microscopy—Stress measurements and deformation analysis

Wasmer, K. ; Wermelinger, T. ; Bidiville, A. ; Spolenak, R. ; Michler, J.

In: Journal of Materials Research, 2008, vol. 23, no. 11, p. 3040-3047

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