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Dokumententyp
Institution
Spezialsammlung
Sprache
- Englisch (2)
Autor
- Michler, J. (2)
- Rzepiejewska-Malyska, K.A. (2)
- Asif, S.A.S. (1)
- Buerki, G. (1)
- Cyrankowski, E. (1)
- Hejduk, J. (1)
- Major, R.C. (1)
- Mook, W.M. (1)
- Parlinska-Wojtan, M. (1)
- Warren, O.L. (1)
Schlagwort
- Scanning electron microscopy (SEM) (2)
- Hardness (1)
- Nanoindentation (1)
- Nanoscale (1)
- Thin film (1)