Sottometti
Personalizza
I tuoi avvisi
Le tue liste
Le tue ricerche
Aiuto
de
en
fr
it
ospite ::
login
Ricerca Avanzata
Ricerca nel testo
Memorizzare il filtro selezionato per la prossima ricerca
Perfeziona i miei risultati
Document type
Articoli
(1)
Institution
Nazionale
(1)
Collection spécifique
Collezioni Nazionale
(1)
Lingua
Inglese
(1)
Autore
Asbach, Christof
(1)
Fissan, Heinz
(1)
Hülser, Tim
(1)
Kaminski, Heinz
(1)
Kuhlbusch, Thomas
(1)
Pui, David
(1)
Wang, Jing
(1)
Domaine
Médecine, Technologie, Sciences de l'ingénieur, Informatique
(1)
Parola chiave
Emission measurement
(1)
Nanoparticle agglomerates
(1)
Silicon nanoparticles
(1)
Workplace safety
(1)
Ordinati per: Data di deposito
Data di deposito
Titolo
Autore
Ascendente
Discendente
1
risultati
1
Postprint
Emission measurement and safety assessment for the production process of silicon nanoparticles in a pilot-scale facility
Wang, Jing
;
Asbach, Christof
;
Fissan, Heinz
;
Hülser, Tim
;
Kaminski, Heinz
;
Kuhlbusch, Thomas
;
Pui, David
In: Journal of Nanoparticle Research, 2012, vol. 14, no. 4, p. 1-9