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Inglese
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Autore
Baylou, Pierre
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Domaine
Médecine, Technologie, Sciences de l'ingénieur, Informatique
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Parola chiave
measurement uncertainty
(1)
nickel base superalloy
(1)
phase fraction
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scanning electron microscopy
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single section stereology
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spatial statistics
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Confidence Bounds for the Estimation of the Volume Phase Fraction from a Single Image in a Nickel Base Superalloy
Blanc, Rémi
;
Baylou, Pierre
;
Germain, Christian
;
Da Costa, Jean-Pierre
In: Microscopy and Microanalysis, 2010, vol. 16, no. 3, p. 273-281