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Artikel
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Institution
National
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Spezialsammlung
National Sammlungen
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Sprache
Englisch
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Autor
Baylou, Pierre
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Blanc, Rémi
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Da Costa, Jean-Pierre
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Germain, Christian
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Fachgebiet
Medizin, Technik, Ingenieurwissenschaften, Informatik
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Schlagwort
measurement uncertainty
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nickel base superalloy
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phase fraction
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scanning electron microscopy
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single section stereology
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spatial statistics
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Postprint
Confidence Bounds for the Estimation of the Volume Phase Fraction from a Single Image in a Nickel Base Superalloy
Blanc, Rémi
;
Baylou, Pierre
;
Germain, Christian
;
Da Costa, Jean-Pierre
In: Microscopy and Microanalysis, 2010, vol. 16, no. 3, p. 273-281