• Sottometti
  • Personalizza
    • I tuoi avvisi
    • Le tue liste
    • Le tue ricerche
  • Aiuto
  • de
  • en
  • fr
  • it
  • ospite :: login
Ricerca Avanzata
  • Ricerca nel testo
  • Memorizzare il filtro selezionato per la prossima ricerca

Perfeziona i miei risultati

Document type

  • Articoli (1)

Institution

  • Nazionale (1)

Collection spécifique

  • Collezioni Nazionale (1)

Lingua

  • Inglese (1)

Autore

  • Baylou, Pierre (1) disattivare il filtro
  • Blanc, Rémi (1)
  • Da Costa, Jean-Pierre (1)
  • Germain, Christian (1)

Domaine

  • Médecine, Technologie, Sciences de l'ingénieur, Informatique (1)

Parola chiave

  • measurement uncertainty (1)
  • nickel base superalloy (1)
  • phase fraction (1)
  • scanning electron microscopy (1)
  • single section stereology (1)
  • spatial statistics (1)
Ordinati per: Data di deposito
  • Data di deposito
  • Titolo
  • Autore

  • Ascendente
  • Discendente
1 risultati 1
Postprint
Consortium of Swiss Academic Libraries

Confidence Bounds for the Estimation of the Volume Phase Fraction from a Single Image in a Nickel Base Superalloy

Blanc, Rémi ; Baylou, Pierre ; Germain, Christian ; Da Costa, Jean-Pierre

In: Microscopy and Microanalysis, 2010, vol. 16, no. 3, p. 273-281

1 risultati 1
  • Pagina principale
  • Contact
  • RERO Explore
  • Fornita da Invenio
  • / © Copyright RERO