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  • Articles (1)

Institution

  • National (1)

Collection spécifique

  • Collections Nationales (1)

Langue

  • Anglais (1)

Auteur

  • Baylou, Pierre (1) désactiver le filtre
  • Blanc, Rémi (1)
  • Da Costa, Jean-Pierre (1)
  • Germain, Christian (1)

Domaine

  • Médecine, Technologie, Sciences de l'ingénieur, Informatique (1)

Mot clé

  • measurement uncertainty (1)
  • nickel base superalloy (1)
  • phase fraction (1)
  • scanning electron microscopy (1)
  • single section stereology (1)
  • spatial statistics (1)
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Postprint
Consortium of Swiss Academic Libraries

Confidence Bounds for the Estimation of the Volume Phase Fraction from a Single Image in a Nickel Base Superalloy

Blanc, Rémi ; Baylou, Pierre ; Germain, Christian ; Da Costa, Jean-Pierre

In: Microscopy and Microanalysis, 2010, vol. 16, no. 3, p. 273-281

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