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Type de document
Institution
Collection spécifique
Langue
- Anglais (1)
Auteur
-
Barbieri, L. (1)
- Michler, J. (1)
- Moser, B. (1)
- Wasmer, K. (1)
Mot clé
- Scanning electron microscopy (SEM) (1)
- Si (1)
- Strength (1)