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  • Médecine, Technologie, Sciences de l'ingénieur, Informatique (2)

Mot clé

  • III-V semiconductor (1)
  • Rietveld refinement (1)
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Postprint
Consortium of Swiss Academic Libraries

Rietveld refinement of the crystal structures of hexagonal Y6Cr4+xAl43−x (x=2.57) and tetragonal YCr4−xAl8+x (x=1.22)

Černý, R. ; Yvon, K. ; Yanson, T. I. ; Manyako, M. B. ; Bodak, O. I.

In: Powder Diffraction, 1995, vol. 10, no. 2, p. 86-90

Postprint
Consortium of Swiss Academic Libraries

Rietveld refinement for indium nitride in the 105-295 K range

Paszkowicz, W. ; Černý, R. ; Krukowski, S.

In: Powder Diffraction, 2003, vol. 18, no. 2, p. 114-121

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