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Document type

Articoli (1)

Institution

Neuchâtel & Giura
- Università di Neuchâtel (1)

Collection spécifique

Collezioni Nazionale
- Licenze nazionali (1)

Lingua

Inglese (1)

Autore

De Rossi, François-Xavier (1)
Gatto, Riccardo (1)

Domaine

Sciences exactes et naturelles
- Mathématiques
  - Altro (1)

Parola chiave

Bartlett correction (1)
Edgeworth approximation (1)
Likelihood ratio test (1)
M-ratio test (1)
Nuisance parameter (1)
Regression model (1)
Robust p-value and quantile (1)
Saddlepoint approximation (1)
Signed-root M-ratio test (1)
Signed-root likelihood ratio test (1)

Ordinati per: Autore

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Autore

Ascendente
Discendente

1 risultati 1

Consortium of Swiss Academic Libraries

High-order asymptotic expansions for robust tests

De Rossi, François-Xavier ; Gatto, Riccardo

In: Biometrika, 2001, vol. 88, no. 4, p. 1153-1168

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