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Dokumententyp

  • Artikel (1)

Institution

  • Neuenburg/Jura Filter Auschalten
    • Universität Neuenburg (1)

Spezialsammlung

  • National Sammlungen Filter Auschalten
    • Nationallizenzen (1)

Sprache

  • Englisch (1)

Autor

  • De Rossi, François-Xavier (1) Filter Auschalten
  • Gatto, Riccardo (1)

Fachgebiet

  • Naturwissenschaften/Mathematik
    • Mathematik Filter Auschalten
      • Andere (1)

Schlagwort

  • Bartlett correction (1)
  • Edgeworth approximation (1)
  • Likelihood ratio test (1)
  • M-ratio test (1)
  • Nuisance parameter (1)
  • Regression model (1)
  • Robust p-value and quantile (1)
  • Saddlepoint approximation (1)
  • Signed-root M-ratio test (1)
  • Signed-root likelihood ratio test (1)
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Postprint
Consortium of Swiss Academic Libraries

High-order asymptotic expansions for robust tests

De Rossi, François-Xavier ; Gatto, Riccardo

In: Biometrika, 2001, vol. 88, no. 4, p. 1153-1168

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