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Dokumententyp
Institution
Spezialsammlung
Sprache
- Englisch (1)
Autor
- Dousse, Jean-Claude (1)
- Hoszowska, Joanna (1)
Schlagwort
- RIXS (1)
- XES (1)
- atomic-level widths (1)
- double photoexcitation (1)
- high-resolution X-ray spectrometer (1)