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Dokumententyp
Institution
Spezialsammlung
Sprache
- Englisch (3)
Autor
- Fichtner, Wolfgang (3)
- Buergin, Felix (1)
- Carbognani, Flavio (1)
- Ciappa, Mauro (1)
- Felber, Norbert (1)
- Kaeslin, Hubert (1)
- Klimeck, Gerhard (1)
- Luisier, Mathieu (1)
- Malandruccolo, Vezio (1)
- Rothleitner, Hubert (1)
- Schenk, Andreas (1) Mehr Weniger
Fachgebiet
Schlagwort
- Burn-in (1)
- Crystal defects (1)
- Gate oxide reliability (1)
- Gate stress test (1)
- Hearing aids (1)
- Low power (1)
- Low side switch (1)
- Multiplier (1)
- NEGF (1)
- Nanowires (1)
- Open boundary conditions (1)
- Switching activity (1)
- Tight-binding method (1)
- Transmission gate (1) Mehr Weniger