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Type de document
Institution
Collection spécifique
Langue
- Anglais (3)
Auteur
- Bufler, F. (3)
- Erlebach, A. (1)
- Hudé, R. (1)
- May, C. (1)
- Smith, L. (1)
Domaine
Mot clé
- TCAD (2)
- 3D Monte Carlo (1)
- FinFET (1)
- Fully-depleted SOI devices (1)
- Impact ionization (1)
- Monte Carlo device simulation (1)
- Quantum correction (1)
- Quantum effects (1)
- Strained silicon (1)