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Dokumententyp
Institution
Spezialsammlung
Sprache
- Englisch (1)
Autor
- Ben Jemaa, Nourredine (1)
- Broué, Adrien (1)
- Charvet, Pierre-Louis (1)
- Coccetti, Fabio (1)
- Dhennin, Jérémie (1)
- Heeb, Peter (1)
- Plana, Robert (1)
- Pons, Patrick (1)
Fachgebiet
Schlagwort
- RF-MEMS (1)
- micro-contact materials (1)
- reliability (1)
- temperature (1)