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Langue

Auteur

• Esteban Llorente, Rubén (1)
• Kern, Klaus (Dir.) (1)

Mot clé

• Apertureless (1)
• Demodulation (1)
• Experiments (1)
• Extended detector (1)
• Extended tips (1)
• Farfield (1)
• Higher harmonics (1)
• Imaging (1)
• MMP (1)
• Nano-Optics (1)
• Nearfield (1)
• Non-perturbative (1)
• Optical Phase (1)
• Plasmonics (1)
• Quantitative (1)
• Realistic simulations (1)
• SNOM (1)
• Scanning Probe Microscopy (1)
• Strong interaction (1)
• modeling (1)
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